膜厚測試儀產(chǎn)品簡介

世界一流,經(jīng)濟有效的Filmetrics薄膜厚度測量系統(tǒng),測量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測試儀擁有單點測量、顯微鏡斑點測量、自動測繪系統(tǒng)、在線監(jiān)測等功能型號的膜厚測試儀產(chǎn)品。Filmetrics 膜厚測試儀通過分析薄膜的反射光譜來測量薄膜的厚度，通過非可見光的測量，可以測量薄至1nm或厚至10mm的薄膜。測量結(jié)果可在幾秒鐘顯示：薄膜厚度、顏色、折射率甚至是表面粗糙度。

Filmetrics膜厚測試儀廣泛用于半導體制造（非晶多晶硅、多孔硅、光刻膠、氮化物、氧化物等）、液晶顯示（聚酰亞胺、導電透明膜）、光學涂層（硬涂層、抗反射涂層）、玻璃和塑料厚度、硬涂層厚度、有機發(fā)光顯示器、制程薄膜、硅晶圓薄膜等測試應用。

F20 便攜式透明/半透明膜膜厚測試儀主要用于測試各種透明半透明的膜厚

產(chǎn)品簡介：

1 有五種不同波長選擇(波長范圍從紫外220nm至近紅外1700nm)； 
2 最大樣品薄膜厚度的測量范圍是：3nm ～ 25um； 
3 精度為好于0.1nm。

產(chǎn)品特性：

1 、操作簡單、使用方便； 
2 、測量快速、準確； 
3 、體積小、重量輕； 
4 、價格便宜。

產(chǎn)品應用： 
1 、半導體行業(yè): 光阻、氧化物、氮化物； 
2 、 LCD 行業(yè): 液晶盒間隙厚度、 Polyimides； 
3 、光電鍍膜應用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片。

型號規(guī)格：