XRF分析是一種成熟、值得信任的可靠技能，可用于丈量從珠寶到工程設(shè)備等各種部件的鍍層厚度。作為質(zhì)量操控流程的一個(gè)關(guān)鍵部分，您很可能會(huì)依托XRF的測(cè)驗(yàn)成果來(lái)操控流程，并在發(fā)貨前測(cè)驗(yàn)成品部件的質(zhì)量。

但是，盡管XRF是一種可靠的技能，但它也很容易得到錯(cuò)誤成果，尤其是對(duì)于鍍層厚度丈量。在這篇文章中，我們將討論您的XRF丈量出錯(cuò)的原因，以及您可以采取的預(yù)防措施。

XRF錯(cuò)誤的源頭

一般來(lái)說(shuō)，丈量犯錯(cuò)有兩種原因：要么您的儀器有問(wèn)題，要么您的丈量方法有問(wèn)題。咱們先來(lái)看看儀器方面的問(wèn)題。

如何保證您的XRF工作正常。

XRF分析儀是一種精密儀器，在其使用期內(nèi)–從您完結(jié)慣例查看到制造商年檢都需求小心使用。這是您保證XRF提供正確成果所需的必要工作。

*常規(guī)儀器檢測(cè) 

常規(guī)儀器檢測(cè)查看由操作員按照制造商主張的時(shí)刻距離進(jìn)行。此類查看會(huì)監(jiān)測(cè)儀器的內(nèi)部性能，如X射線探測(cè)器強(qiáng)度、探測(cè)器分辨率和探測(cè)器增益。假如發(fā)現(xiàn)纖細(xì)改變，儀器會(huì)主動(dòng)進(jìn)行調(diào)整。而假如改變超出預(yù)期，您的分析儀會(huì)發(fā)出警報(bào)，此刻需求聯(lián)絡(luò)制造商。遵守制造商主張的查看距離是很重要的——假如時(shí)刻距離太長(zhǎng)，就會(huì)錯(cuò)失發(fā)現(xiàn)纖細(xì)改變的機(jī)遇，假如時(shí)刻距離太短，分析儀可能會(huì)過(guò)度糾正，因此也可能帶來(lái)錯(cuò)誤。

*校準(zhǔn) 

進(jìn)行常規(guī)儀器查看之后，在使用XRF分析儀進(jìn)行質(zhì)量操控之前，您需求驗(yàn)證您的校準(zhǔn)。您可以使用已知的出產(chǎn)零件或參閱樣（也稱為規(guī)范樣）。重要的是，此類參閱樣須從經(jīng)認(rèn)證的供應(yīng)商處購(gòu)買，最好定期由ISO17025認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室對(duì)其進(jìn)行重新認(rèn)證。

*儀器認(rèn)證 

作為儀器年檢的一部分，主張您讓原始制造商對(duì)您的XRF分析儀進(jìn)行重新認(rèn)證，保證靈敏部件正常工作。這一般由專業(yè)工程師進(jìn)行，其將進(jìn)行全面診斷并提出相應(yīng)主張。 

可能導(dǎo)致誤差的分析錯(cuò)誤

即便運(yùn)用設(shè)置完美的儀器，在進(jìn)行丈量時(shí)，還會(huì)有其他因素可能導(dǎo)致過(guò)錯(cuò)。

*未履行樣品對(duì)焦 

保證樣品被正確對(duì)焦是丈量過(guò)程中的一個(gè)關(guān)鍵步驟。保證X射線管、樣品和探測(cè)器彼此之間的間隔固定，這關(guān)于準(zhǔn)確的鍍層厚度結(jié)果至關(guān)重要。假如X射線管、樣品和探測(cè)器彼此之間的間隔太大，則鍍層會(huì)變薄，反之亦然。假如您要丈量多層鍍層，過(guò)錯(cuò)就會(huì)疊加。

*基底改變

基底內(nèi)的其他元素會(huì)干擾鍍層間的X射線相互作用。這意味著產(chǎn)生的X射線信號(hào)與正確的鍍層厚度無(wú)法關(guān)聯(lián)。好在目前這種影響已被充分認(rèn)識(shí)理解，所以假如您運(yùn)用與您的實(shí)際基底十分類似的資料進(jìn)行校準(zhǔn)，則可補(bǔ)償這種影響。本質(zhì)上，您的基底資料需與您的校準(zhǔn)參閱樣十分類似。

*超出校準(zhǔn)范圍的測(cè)量

您儀器的校準(zhǔn)是針對(duì)有限規(guī)模內(nèi)的鍍層厚度和成分進(jìn)行優(yōu)化。在較大規(guī)模內(nèi)，鍍層厚度和X射線強(qiáng)度之間的關(guān)系不是線性的，因而您不能保證在儀器校準(zhǔn)規(guī)模之外也獲得牢靠的結(jié)果。您的XRF制造商能夠告訴您校準(zhǔn)的測(cè)試極限，而且您也能夠在軟件上設(shè)置警告，假如丈量值超出“安全”規(guī)模，就會(huì)提示操作員，如此您能夠保證一直在校準(zhǔn)極限規(guī)模內(nèi)進(jìn)行丈量。