目前涂層測厚儀(膜厚儀）所采用的原理基本是以下幾種：
 
1. 放射性測厚法：利用射線穿透檢測。此類儀器價格非常昂貴（一般在10萬人民幣以上）。適用于一些特殊環(huán)境，各項技術參數(shù)要求相對比較高，使用范圍相對狹窄。
 
2. 超聲波測厚法：利用超聲波頻率變化檢測。適用于多層涂層厚度的測量。一般價格昂貴，測量精度也不高，國內(nèi)暫時還沒有投入生產(chǎn)。
 
3. 微波激光測厚法：正在研發(fā)中。
 
4. 電解測厚法：需要破壞涂層，屬于有損檢測，基本上已棄用。
 
5. 渦流測厚法：利用渦流原理檢測。適用于導電金屬上的非導電層厚度測量。也就是我們一般所說的鋁基膜厚儀。
 
6. 磁性測厚法：適用導磁是否會的非導磁層厚度測量。也就是我們一般所說的鐵基膜厚儀，這種方法測量結果精度高。
 
目前國內(nèi)的涂層測厚儀基本是采用渦流測厚法或磁性測厚法或二者相結合的原理。
 
 
當檢測各種非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。例如：鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽極氧化層或涂層時，我們用鋁基測厚儀。
 
高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。
 
當所測材料為鐵基時，采用電磁感應法測量涂層的厚度。將處于工作狀態(tài)下的測量探頭平穩(wěn)放置于被測件表面上，涂層測厚儀的探頭和被測件連接，形成一個閉合的磁回路。隨著探頭的與被測鐵磁性材料之間距離的改變，該磁性回路將產(chǎn)生不同程度的改變，從而引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理就可以精確地測量探頭與鐵磁性材料之間的距離，該距離即為所測的涂層厚度。
 
分體機不僅適合常規(guī)平整面，而且適合內(nèi)徑大的曲面，有凹槽，夾角，縫隙的產(chǎn)品上涂層厚度的測量，相對來說它比一體基更穩(wěn)定。
 
涂層測厚儀全部采用德國進口的小口徑高精密探頭，在使用的過程中穩(wěn)定性更高。看我們的客戶在實際測量過程中做的數(shù)據(jù)對比圖：