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標(biāo)簽：牛津膜厚測(cè)厚儀

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[技術(shù)知識(shí)] 涂層測(cè)厚儀測(cè)量工作原理與常見的三種故障解析

測(cè)厚儀（thicknessgauge是用來測(cè)量物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來接連測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、紙張等）。這類儀表中有使用α射線、β射線、y射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有使用超聲波頻率改動(dòng)的超聲波厚度計(jì)；有使用渦流原理的電
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[技術(shù)知識(shí)] 淺析鍍層測(cè)厚儀無法避免的測(cè)量誤差問題

一、測(cè)量目標(biāo)引進(jìn)的誤差測(cè)量目標(biāo)引進(jìn)的測(cè)量誤差主要包含以下幾方面：1、覆蓋層厚度的影響2、基體金屬磁性的影響3、基體金屬厚度的影響4、材料的邊際效應(yīng)的影響5、基體金屬機(jī)械加工方向的影響6、基體金屬剩磁的影響7、基體金屬曲率的影響8、基體金屬外
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