X熒光測厚儀綜合性能分析測試

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X熒光測厚儀綜合性能分析測試

　　X熒光測厚儀可測元素范圍：鈦（Ti）–鈾（U）原子序22–92

　　準(zhǔn)直器：固定種類大小:可選圓形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm

　　自動種類大小:可選圓形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm

　　電腦系統(tǒng)：DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機(jī)

　　綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計功能

　　X熒光測厚儀性能特點(diǎn)

　　滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

　　φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求

　　高精度移動平臺可精確定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

　　采用高度定位激光，可自動定位測試高度

　　定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊

　　鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)

　　高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

　　良好的射線屏蔽作用

　　測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

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