膜厚測試儀探頭使用中經常遇到的問題

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膜厚測試儀探頭使用中經常遇到的問題

發(fā)布日期：2020-08-20 作者：admin 點擊：

膜厚測試儀探頭使用中經常遇到的問題

在維修膜厚測試儀探頭時經常發(fā)現磁芯的磨損較厲害，有的可以說是損壞嚴重。滄州歐譜例如N1頭的寶石芯經常破損掉碴，F1頭磁芯的弧芯被壓平或變形等。首先作為探頭在使用中被磨損屬正?，F象。但如果用戶根據其特點加以注意，就會延長其使用壽命。其中普遍存在的問題是，在測量時，由于通常都是向下測試，使用者往往較用力向下墩，時間一長就很容易造成測頭芯的失效。

正確的使用方法是將探頭在被測工件一厘米處時輕輕壓向被測表面，因為探頭在設計時已經內置一感應壓力彈簧，只需輕輕壓下即可。

另一點，探頭在反復移動的過程中，易與其它物體發(fā)生磕、碰、撞，也容易造成測頭損壞，滄州歐譜所以如果工作條件允許，可以將測頭固定而將被測工件去接觸探頭，從而減少探頭的磕碰。還有一種情況，在測量時，每當測下一個點一定要將測頭提起不可平拉，以減少磁芯磨損。

最后一點，測頭一定要遠離強磁場，以免改變探頭的固有頻率造成無法工作。正確的操作使用方法會延長儀器的使用壽命。