日立&牛津 的測量和分析儀器廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域，可滿足客戶對(duì)高精度、高可靠性測量和操作簡便的需求。我們通過專業(yè)的咨詢服務(wù)為客戶提供佳的解決方案，即從第一次接觸開始，不斷溝通，直至達(dá)到定制化服務(wù)的理念。這些緊密合作與我們的創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)力不斷結(jié)合，為形成新的測量解決方案奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)

X-Strata920的特點(diǎn)： 
測量范圍為鈦同時(shí)測量5層鍍層（含基材鍍層），15種元素共存校正； 
進(jìn)行非接觸、非破壞的能量色散X射線熒光（EDXRF）分析，進(jìn)行無損測量； 
Ti22---鈾U92間各元素； 
1.測量時(shí)間短，測量時(shí)間約10秒，快速得出測量結(jié)果； 
2.測量結(jié)果報(bào)告可直接打印、輸出到PDF、Excel文檔； 
3.報(bào)告可包含：數(shù)據(jù)、被測樣品點(diǎn)圖片、各種統(tǒng)計(jì)報(bào)表、客戶信息； 
4.系統(tǒng)安全有：X射線警示燈、X射線鎖、紅色急停開關(guān)、樣品室開閉門傳感器、光閘傳感器、使用者和管理員分級(jí)密碼管理等； 
5.貴重金屬分析和金純度檢查（即Au karat評(píng)價(jià)）； 
6.操作簡便，一鍵定焦，有效避免人為操作誤差； 
7.提供NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片； 
8.享有全球的服務(wù)與支持。

測量性能：

測厚范圍：取決于具體的應(yīng)用。 
測量精度： 
1.膜厚≤20μin時(shí)，測量誤差值為：第一層（最上層）±1μin，第二層±2μin，第二層±3μin 
2.膜厚＞20μin時(shí)，測量誤差值為：第一層（最上層）±5%，第二層±10%，第二層±15%