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如何為產(chǎn)品選擇適用的鍍層測厚儀

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如何為產(chǎn)品選擇適用的鍍層測厚儀

發(fā)布日期:2020-10-23 作者:kf 點(diǎn)擊:

商場對通訊設(shè)備、電子可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)的需求,加之汽車和其他行業(yè)對電子產(chǎn)品的日益依靠,正推進(jìn)線路板商場的快速增長。

鍍層測厚儀

商場對通訊設(shè)備、電子可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)的需求,加之汽車和其他行業(yè)對電子產(chǎn)品的日益依靠,正推進(jìn)線路板商場的快速增長。在進(jìn)步電子元件的產(chǎn)量和滿意更高質(zhì)量期望的一起,企業(yè)正在尋求進(jìn)步質(zhì)量的辦法。鍍層測厚儀


運(yùn)用合適的剖析儀是此過程的重要環(huán)節(jié)。X射線熒光光譜(XRF)是一種廣泛用于丈量鍍層厚度和成分的鍍層技術(shù),因?yàn)槠渚哂袩o損、快速和直觀的特點(diǎn)。


XRF儀器具有多種形式,其特征決定了儀器對應(yīng)用的適用性。


特征尺度


要丈量小樣品上的鍍層,XRF鍍層測厚儀運(yùn)用以下兩種辦法之一,將X射線管的光束尺度減小到毫米的幾分之一(即微米):傳統(tǒng)上運(yùn)用的是機(jī)械準(zhǔn)直器,具有小孔的金屬塊放置在光管的前面,只允許與孔對準(zhǔn)的X射線穿過并抵達(dá)樣品。較新的技術(shù)運(yùn)用毛細(xì)聚集管光學(xué)元件 — 一種由彎曲和錐形小玻璃管陣列組成的聚集光學(xué)器材。X射線經(jīng)反射引導(dǎo)經(jīng)過管道,類似于光纖技術(shù)中的光引導(dǎo)方法。毛細(xì)聚集管光學(xué)元件與微束X射線管匹配,以搜集更多的X射線管輸出,將其聚集到更小的面積,其通量比機(jī)械準(zhǔn)直系統(tǒng)的通量大幾個數(shù)量級。


毛細(xì)聚集管光學(xué)元件通常僅包含一個光斑尺度,旨在丈量非常小的面積。這也可以丈量更大的樣品,但或許需要對多個丈量方位的成果進(jìn)行均勻,或許執(zhí)行掃描以取得全體樣品的代表性成果。具有多個機(jī)械準(zhǔn)直器的儀器可供給更大的靈活性,因?yàn)榭梢葬槍σ闪康臉悠穼?zhǔn)直器形狀和尺度進(jìn)行優(yōu)化。而且,運(yùn)用大型準(zhǔn)直器可以更快速地剖析更大的面積。


因?yàn)殡娮与娐泛碗娮釉粩嘧兊酶?、更?fù)雜,所以外表處理需要在更小的特征上進(jìn)行電鍍。盡管您今天或許不需要毛細(xì)聚集管光學(xué)元件,但這或許是一個不錯的挑選,使您的購買永不過期。


應(yīng)用的復(fù)雜性


在任何XRF儀器中,X射線源被用來激起樣品中元素的發(fā)射熒光。在發(fā)射熒光中,每個元素都會釋放出一系列具有特征能量的X射線。運(yùn)用能量色散型XRF儀器,探測器可一起檢測到被X射線管激起的所有元素的熒光。探測器是以下兩種類型之一:封氣正比計(jì)數(shù)器或固態(tài)半導(dǎo)體。最常見的固態(tài)檢測器稱為PIN二極管或硅漂移探測器(SDD)。


這些探測器之間的關(guān)鍵差異之一是分辨率 — 或許清楚地區(qū)別具有相似能量的元素的才能。當(dāng)樣品中存在鎳和銅時,比如ENIG或ENEPIG樣品,正比計(jì)數(shù)器不能徹底解析鎳和銅的峰值。該儀器依靠于數(shù)學(xué)峰形擬合或運(yùn)用了附件硬件的次序剖析,附件硬件將添加丈量時刻。固態(tài)探測器可以徹底解析這些峰值,一起丈量兩個元素以進(jìn)行更快速的剖析。兩種探測器均或許滿意IPC -4552A和IPC – 4556標(biāo)準(zhǔn)。關(guān)于元素易于分辨的外表處理(例如浸銀、浸錫或HASL),固態(tài)探測器的分辨率無任何優(yōu)勢。


除樣品中存在的元素之外,還要考慮鍍層厚度和光束尺度。固態(tài)探測器具有優(yōu)勢。SSD在丈量非常薄的涂層方面具有優(yōu)勢,因?yàn)檫@些探測器的背景噪聲往往低于正比計(jì)數(shù)器。假如電鍍小于?2μin(0.05μm),則值得考慮運(yùn)用固態(tài)探測器??墒?,當(dāng)運(yùn)用機(jī)械準(zhǔn)直器丈量非常小的面積時,因?yàn)檩^大的有用面積,比例計(jì)數(shù)器可以供給更好的精度和丈量時刻。


功用


XRF鍍層儀器具有多種形狀和尺度,甚至包括用于丈量較大產(chǎn)品和總成部件的手持式儀器。您的決定將受到三個考慮因素的影響:樣品室規(guī)劃、樣品臺和先進(jìn)的可用性特征。


樣品室大小和儀器占用空間可根據(jù)線路板尺度進(jìn)行挑選。小型線路板可以放入任何尺度樣品室;但較大的線路板運(yùn)用更大的樣品臺和更大的樣品室則更方便。有些樣品室徹底關(guān)閉,這樣可以避免在剖析過程中線路板意外移動。其他樣品室開槽,這樣便于樣品裝載。開槽樣品室中的底座或樣品臺足夠大,可支撐線路板,使其不會彎曲,從而避免影響成果。


樣品臺可為固定或電動型,并且可編程。固定樣品臺足以對易于定位檢測面積的電路板上一個或幾個方位進(jìn)行點(diǎn)檢。用戶可以運(yùn)用固定樣品臺手動定位樣品,可是關(guān)于具有復(fù)雜規(guī)劃和極小特征的電路板,在電動樣品臺上的處理效果會更好,這種樣品臺可供給更好的準(zhǔn)確度來進(jìn)行微調(diào)。程控樣品臺還可以在樣品的不同方位進(jìn)行一系列丈量,從而運(yùn)用戶可執(zhí)行其他使命。


除XRF儀器中常見的特征之外,還有一些高檔特征可以進(jìn)步工作效率并使儀器更易于操作。其中之一是廣角相機(jī)。除用于準(zhǔn)確定位樣品進(jìn)行剖析的窄視角外,一些儀器還供給了更寬的角度來顯現(xiàn)更多的樣品。這使得從一個方位移動到另一個方位變得更容易、更快速,并確保正在丈量正確的方位。另一個特征是模式識別,其指示軟件檢查樣品圖畫,并準(zhǔn)確定位準(zhǔn)確的預(yù)界說丈量方位。這為用戶節(jié)省了很多的設(shè)置時刻。

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