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技術知識

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  • 涂層測厚儀測量工作原理與常見的三種故障解析

    測厚儀（thicknessgauge是用來測量物體厚度的儀表。在工業(yè)生產中常用來接連測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、紙張等）。這類儀表中有使用α射線、β射線、y射線穿透特性的放射性厚度計；有使用超聲波頻率改動的超聲波厚度計；有使用渦流原理的電
    發(fā)布時間：2022-06-17   點擊次數(shù)：125

  • 直讀光譜儀應用的過程中受那些干擾？

    直讀光譜儀可用于鑄造、鍛造、機械配件、配備制造、質檢、高校教育訓練等領域。在直讀光譜儀剖析過程中，采用高穩(wěn)定的激起光源，激起頻率在150—500Hz之間改變，剖析不同的樣品，可選擇不同的激起參數(shù)，可達到最佳的剖析作用。在實際剖析中會遭到第三
    發(fā)布時間：2022-04-28   點擊次數(shù)：90

  • 案例分析：OES光譜儀和電腦無法連接問題

    儀器類型：OES落地式火花直讀光譜儀。問題現(xiàn)象描述：軟件提示無法連接儀器，電腦無法控制光譜儀。應用背景知識：常見的分析儀器主機和電腦之間通訊方式有標準串口（RS232）、以太網、USB接口、GPIB接口等等。如果通訊異常通常會造成無法進入軟
    發(fā)布時間：2022-01-13   點擊次數(shù)：160

  • 如何確保您的XRF鍍層分析提供準確結果

    電子元件鍍層的XRF剖析是一項成熟的技能。XRF儀器的檢測在本質上歸于無損檢測，且能夠剖析尺寸小于50μm的零件，是許多電子元件電鍍設備實現(xiàn)質量控制程序的中心。然而，此類儀器如此簡單使用的現(xiàn)實往往會在測試成果的安全性上帶來幻覺。對于電子元件
    發(fā)布時間：2022-01-11   點擊次數(shù)：147

  • 如何減少您的鍍層厚度XRF測量錯誤

    XRF分析是一種成熟、值得信任的可靠技能，可用于丈量從珠寶到工程設備等各種部件的鍍層厚度。作為質量操控流程的一個關鍵部分，您很可能會依托XRF的測驗成果來操控流程，并在發(fā)貨前測驗成品部件的質量。但是，盡管XRF是一種可靠的技能，但它也很容易
    發(fā)布時間：2022-01-10   點擊次數(shù)：365

  • 涂鍍層測厚儀的分類與工作原理

    涂鍍層測厚儀根據(jù)丈量原理一般有以下五種類型:1.磁性測厚法:適用導磁資料上的非導磁層厚度丈量.導磁資料一般為:鋼鐵銀鎳.此種辦法丈量精度高.2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度丈量.此種辦法較磁性測厚法精度低.3.超聲波測厚法:目
    發(fā)布時間：2022-01-05   點擊次數(shù)：110

  • 解決HM1000A加熱升溫異常的問題

    儀器類型：HM1000A熱電離質譜儀應用背景知識：HM1000A工作時需要將樣品維持在一定溫度。問題現(xiàn)象描述：AP1熱電偶和溫度感應線斷裂?，F(xiàn)場服務方案：工程師在客戶現(xiàn)場確認到異?，F(xiàn)象，開機后MS指示燈就亮黃色。打開軟件后發(fā)現(xiàn)AP1并未進行
    發(fā)布時間：2021-12-27   點擊次數(shù)：58

  • 如何為您的電子元件鍍層挑選合適的XRF配置

    XRF剖析儀有多種裝備可供挑選：探測器類型、光學系統(tǒng)類型、自動化裝備，乃至是臺式或手持式剖析儀。在本文中，我們將探討運用XRF丈量電子元件鍍層所存在的應戰(zhàn)，并評論在出產環(huán)境中實現(xiàn)牢靠和快速丈量的最佳裝備。外形要素：手持式還是臺式XRF剖析儀
    發(fā)布時間：2021-12-22   點擊次數(shù)：40

  • 如何使用手持式XRF繪制工藝設備成分圖

    在食品、藥品和玩具中發(fā)現(xiàn)異物是比較常見的現(xiàn)象，但卻會讓制造商感到頭疼。其中一個主要問題是進行污染物溯源，或鑒別虛假報告。這時，使用像X-MET8000（一種手持式X射線熒光元素分析儀）這樣的儀器來繪制工藝設備成分圖，將會為您節(jié)省時間和金錢，
    發(fā)布時間：2021-12-20   點擊次數(shù)：78

  • 用XRF測量電鍍液化學成分

    電鍍液的質量會影響鍍層的特性和達到所需厚度的電鍍時間。檢測鍍液的化學成分對于確保成分正確至關重要。密切關注這一點也有助于確保電鍍槽本身不會被電鍍液腐蝕。主要困難在于電鍍液不是持續(xù)不變的。添加了正確的成分之后，電鍍過程本身就會改變電鍍液的成分
    發(fā)布時間：2021-12-15   點擊次數(shù)：61

  • 如何提高大型樣品上微小測量點的XRF測量效率

    XRF分析是驗證電子器件的鍍層厚度和成分的首選技術。XRF準確、精確、快速且無損，可確保多層鍍層在部件的預期保質期內性能保持良好。如果您遵守IPC指南，那么XRF將是許多規(guī)范的首選技術。然而，雖然XRF的分析時間只有數(shù)秒鐘，但設置時間可能要
    發(fā)布時間：2021-12-09   點擊次數(shù)：76

  • 淺析鍍層測厚儀無法避免的測量誤差問題

    一、測量目標引進的誤差測量目標引進的測量誤差主要包含以下幾方面：1、覆蓋層厚度的影響2、基體金屬磁性的影響3、基體金屬厚度的影響4、材料的邊際效應的影響5、基體金屬機械加工方向的影響6、基體金屬剩磁的影響7、基體金屬曲率的影響8、基體金屬外
    發(fā)布時間：2021-11-05   點擊次數(shù)：52
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